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高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计
高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计
来源 :电子质量 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhoujhipanel
【摘 要】
:
本文为了解决高速串行数据接收器专用集成电路的测试难题.提出了针对该高速工作的集成电路的测试方案.并设计了可行的测试电路.通过添加测试引脚、设计专用测试模式.内建自测试等
【作 者】
:
来新泉
张劼
【机 构】
:
西安电子科技大学电路CAD研究所
【出 处】
:
电子质量
【发表日期】
:
2006年1期
【关键词】
:
串行解串传输系统
解串接收器
可测性设计
内建自测度
测试点
SERDES
Deserializer
DFT
BIST
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本文为了解决高速串行数据接收器专用集成电路的测试难题.提出了针对该高速工作的集成电路的测试方案.并设计了可行的测试电路.通过添加测试引脚、设计专用测试模式.内建自测试等方法有效的群决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试.
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