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阐述了2m激光干涉测长基准装置工作原理及系统组成，以线间距测量功能为基础，研究了接触式和非接触式的几何测长对准方法，实现了其测长功能拓展应用。介绍了实现纳米精度测长的技术措施。对称布局的双光电显微镜同步扫描测量接长的方式实现2m刻线间距测量，信号处理系统具有标准间距位置脉冲发生功能，可以实现位移传感器动态触发校准和其它应用。对于高质量的线纹尺，2m激光干涉测长基准装置单次测量刻线间距的最佳瞄准精度优于10nm（1σ），1m测量范围内的线纹测量不确定度U=（20＋40L）nm（k=2）。