论文部分内容阅读
本文报道用四硫富瓦烯四硫醇盐(FTFS44-,简写TTFS4)修饰CdS、NiS的纳米微粒的方法,通过TEM、FT-IR等手段对修饰的纳米微粒进行了表征.实验发现CdS/TTFS4的固体荧光强度随着修饰量的增加而逐渐减弱.表面修饰后的CdS和NiS的电导率比修饰前都有提高,后者更为明显.