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采用红外光谱研究(NH4)2SiF6处理的KL沸石样品的骨架Si/Al与吸收带频率的关系。在-770cm^-1附近吸收带的频率与沸石骨架Al的摩尔分数XAl(即Al/(Si+Al))间存线形关系:XAl=-7.309×10×-3(v770-760)+0.3242。这一结果与化学分析结果一致。