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文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于NiosⅡ软核CPU测试Serial EEPROM的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点.在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案.
基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究
【摘 要】
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文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于NiosⅡ软核CPU测试Serial EEPROM的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点.在Serial EEPROM的大量
【机 构】
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中国电子科技集团公司第58研究所
【出 处】
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电子与封装
【发表日期】
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2006年5期
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