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期刊论文
一种嵌入式存储器的测试与修复方法
一种嵌入式存储器的测试与修复方法
来源 :集成电路通讯 | 被引量 : 0次 | 上传用户:chengkemin
【摘 要】
:
嵌入式存储器是SOC设计中最常用的核,其测试和修复功能可以大大提高芯片的良率。一种存储器行修复的内建自修复结构,包括BIST控制电路、BISA自分析电路和EFUSE可编程熔丝。通过
【作 者】
:
秦盼
王健
吴慧
【机 构】
:
北方通用电子集团有限公司微电子部,中国人民解放军驻9373厂军事代表室
【出 处】
:
集成电路通讯
【发表日期】
:
2015年3期
【关键词】
:
嵌入式存储器
内建自测试
内建自修复
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嵌入式存储器是SOC设计中最常用的核,其测试和修复功能可以大大提高芯片的良率。一种存储器行修复的内建自修复结构,包括BIST控制电路、BISA自分析电路和EFUSE可编程熔丝。通过项目实例证明了该结构的可行性。该结构减少了外部测试接口及测试成本,适用于其它SOC芯片设计。
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