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提高合成孔径雷达(SAR)图像的分辨率对自动目标识别等具有重要意义。为此改进了一种基于lk范数正则化方法,并用于SAR图像超分辨。该方法通过合理开发利用符合SAR成像工程背景的先验知识,构造附加约束,把图像超分辨问题规划为形式简单的带约束优化问题。仿真和实测数据计算结果证实了该方法的有效性。