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提出了一种判断一维光子晶体（PC）禁带位置的相位图方法.利用扩展相位图,方便地描述了PC的禁带规律.研究发现,由2种正折射率材料构成的PC,其禁带特征与由正、负折射率材料交替排列构成的PC有着很大的差异.
研究光子晶体禁带特征的一种简捷方法
【摘 要】
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提出了一种判断一维光子晶体（PC）禁带位置的相位图方法.利用扩展相位图,方便地描述了PC的禁带规律.研究发现,由2种正折射率材料构成的PC,其禁带特征与由正、负折射率材料交替排
【机 构】
：
江苏工业学院信息科学系,华中科技大学物理系
【出 处】
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光电子.激光
【发表日期】
：
2007年7期
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