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为了从微观上解释绝缘聚合物的电老化与材料结构变化间的关系，国际上广泛开展了空间电荷理论及测量的研究。热刺激电流是材料极化后随温度升高释放的pA级电流，是一种研究聚合物绝缘材料在电气压力下内部微观结构变化的重要手段。本文设计了微电流测量电路，同时讨论了影响该电流测量的因素，包括抗干扰和数据采集、处理等技术。实测了纳米和非纳米材料的热刺激电流，分析了不同绝缘材料的热刺激电流特征和微观结构问联系。