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本文提出了一种测量扭曲向列相液晶盒盒厚与扭曲角的新方法，在液晶盒和检偏器之间放置四分之一波片，通过旋转此四分之一波片，测量各个调制点的光强，用傅里叶分析法计算线偏振光穿过液晶盒后的stokes矢量，从而求出液晶盒盒厚以及扭曲角。实验证明，用此方法测量盒厚比较小的液晶盒厚有较高测量精度。另外，此方法也可以应用到单偏振片反射式液晶盒盒厚和扭曲角的测量。