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研究了以WSi0.6复合材料作为靶源,采用直流空溅射工艺成膜,不同退火温度下GaAs衬底材料上WSi0.6膜层的特性。包括WSi0.6/GaAs系统断面SEM分析,AES界面机构分析、表面形貌分析及金属-半导体肖特基势垒特性分析,实验结果表明,在氩气压力为133Pdisplay status