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热释电材料铌酸锂（LN）晶片可作为热释电探测器敏感层材料。介电常数和介电损耗是判断热释电材料性能的2个重要参数。为解决在测试参数时，测试数据量大，测试精度要求高、测试时间较长等问题，提出了一种自动采集、自动记录及处理的测试系统，并测试出减薄前后LN晶片的介电常数和介电损耗随温度的变化曲线。经过数据分析得出，LN晶片的相对介电常数随着温度的升高呈增大趋势，减薄前后其相对介电常数变化不是很大，减薄后略减小；而LN晶片的介电损耗随着温度的升高呈增大趋势，160℃以下增长缓慢，但在160℃以上迅速增大；LN晶片的