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针对传统IC芯片质量检测效率低、合格率低等问题,设计了一套基于模板匹配算法的IC芯片质量视觉检测系统。利用图像采集分析算法和计算机技术,解决了运动控制、光源的选择等关键问题,在Visual C++6.0平台下实现了该系统。它操作界面简洁、可视化,可以高效地完成芯片质量的检测,相比传统的检测方式效率大大提高。