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由空间辐射、噪声干扰等环境问题引发的软错误给VLSI设计可靠性带来了严峻挑战。由于目前的软错误保护机制通常都基于冗余，因此，对电路进行完全的软错误保护需要的容错代价十分高昂，只能对设计进行有选择性的保护。软错误可靠性分析是有选择性保护的关键。为了在同时满足多种设计目标的前提下有效部署容错机制，平衡可靠性需求与容错开销，软错误系统级可靠性评价至关重要。按照核心技术的不同，本文对已有的软错误系统级可靠性评价方法进行分类及介绍，并详细分析了各类方法的进展和优缺点，总结了已有方法存在的问题和面临的挑战，指出了未来