论文部分内容阅读
数字仪器提供了开发智能半导体测试系统所需的硬件与软件功能2016年8月2日,NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)作为致力于帮助工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。该产品将射频集成电路、电源管理IC、微机电(MEMS)系统设备以及混合信号IC的制造商从传统半导体自动化测试设备(ATE)的封闭式架构中解放出来。传统ATE的测试覆盖率通常无法满足最新半导体设备