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测试数据压缩是片上系统（System-on-chip，SoC）测试中的关键问题之一，用于有效地减少测试数据总量。本文提出了一种新颖的变长一变长压缩编码，称为AFDR（Ad-vancedfrequency-directedrun-length）编码。它同时对0游程和1游程进行编码，并对等长游程赋以相同的编码，优化了仅仅考虑0游程的FDR（Frequency-directedrun-length）码。此外，对游程长度为2的数据（即00和11）进行特殊处理，进一步地提高了压缩比。ISCAS89标准电路下的实验结