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含处理器（CPU）电路的测试和故障诊断一直是测试领域的一个难点。在研究过程中，提出并设计了一种电气隔离测试方法。该方法通过对CPU电路基本属性分析，采用对CPU复位脚进行操作使其一直处于某种特定状态，并设计一套外围电路对其进行数据收发，从而实现将CPU从电路中“隔离”出来进行测试。实验结果表明，该方法具有其独特的优势。