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测试了 Ho:YAG 和 Ho:YLF 晶体的吸收谱和荧光谱,计算 Ho~(3+)离子的振子强度参数,辐射跃迁几率A_(J,J′),荧光辐射寿命,并与实验测得的荧光辐射寿命及振子强度的实验值比较。应用跃迁速率方程计算得出对应2.1μm的荧光强度最大的掺杂离子 Ho~(3+)的最佳浓度分别为～2.5%和～1%左右。讨论了 YAG 和 YLF 作为掺 Ho~(3+)的基质晶体优点。