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pMOSFET的NBTI退化机理及内在影响因素

来源 :东南大学学报(自然科学版 | 被引量 : 0次 | 上传用户：yzz133

【作 者】

：

张春伟  刘斯扬  张艺  孙伟锋  苏巍  张爱军  刘玉伟 

【出 处】

：

东南大学学报(自然科学版

【发表日期】

：

2015年07期

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