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建立了微波等离子体原子发射光谱法直接测定金属铜中微量硅的分析方法.在低温加热下用硝酸溶解试样,选择Si 251.611 nm的光谱线作为分析线,在选定的称样量情况下,基体铜对测定无干扰.对A级铜样品测定的相对标准偏差在10％左右,加标回收率在94％ ～ 105％.本法测定结果与国标法（硅钼蓝分光光度法）分析方法测定结果一致.该方法适用于金属铜中微量硅的分析测定.