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钴基非晶薄带经热磁处理后,磁滞回线呈不对称特性,这种特性可以在室温下获得。我们前期的研究工作着重于该现象的实验观测和简单的唯象解释。本文通过XRD、HRTEM等测试手段研究了热磁处理过程中薄带微结构的变化。研究了不同热处理条件对钴基非晶薄带磁滞回线特征的影响,并分析了发生回线偏移行为样品的微结构特征。认识到热磁处理生成的适宜微晶相是导致非晶薄带磁滞回线发生偏移的主要因素。