论文部分内容阅读
采用电化学沉积方法在透明导电玻璃表面沉积ZnO薄膜,并采用JSM-6360LV高低真空扫描电子显微镜观察微观形貌,并对其生长行为进行了分析.结果表明:当铝掺杂浓度较低为1at%的时候,长成的纳米线阵列膜均匀度好,密度较大,组织结构紧密,且生长方向基本沿垂直衬底方向;而当电位变大或变小会改变长径比或生长方向.