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逻辑函数可以根据需要被表示成多种不同的形式,其中的ESOP形式所需积项较少且具有一般性.针对数字电路的多故障,基于逻辑函数的ESOP形式,采用与门阵列和异或门树来进行电路的可测性设计,提出了在这种电路结构下的多故障测试方法,给出了检测电路中多故障的通用测试集.该测试集可从电路结构图直观求得,无需进行复杂处理,从而使测试生成变得简单快捷.