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为满足惯性约束聚变研究需要工作距离长、测谱范围宽的X射线诊断设备的独特要求，基于凸面反射几何原理研制了一台双通道弯晶谱仪。谱仪利用Si（111）及Qz（10-10）两种弯晶衍射X射线，并通过X射线CCD成功获得谱线图像，测谱范围从0．30nm到0．65nm。在激光装置原型诊断实验上得到应用。数据分析的结果证明实测谱线图像与理论模拟基本吻合。