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近年来发展的离散事件系统（DES）为数模混合电路中数字信号和模拟信号提供了一种统一的测试方法，而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点。本文阐述了目前学者提出的几种求取最小测试集算法的基本思想，分析了各算法的优缺点，并深入地比较了各个算法，通过具体实验说明了各算法的优劣性，最后指出了该学科今后的发展方向。