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气溶胶样品中Z〉12元素含量的质子X射线荧光分析是北师大GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补该方法不能分析H、C、N和。等轻元素之不足，我们通过在PIXE靶室40°和160°散射角安装金硅面垒探测器，用质子前角弹性散射分析和非卢瑟福背散射方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和。等轻元素的含量进行了测量。