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用正电子漂没Doppler展宽能谱仪测量了若干具朋可逆形状记忆效应的Ti-51.0at.%Ni合金试样。发现:凡可逆形状记忆效应好的试样都含有结构缺陷,这一点与文献报道的一致;但是;并不是所有包含结构缺陷的试样都能给出好的可逆形状记忆效应;要获得好的可逆形状记忆效应,试样中的结构缺陷在密度上必须适量,不多不少,数量太多或太少的试样都不能产生好的记忆性能。