论文部分内容阅读
由于工艺的偏差主导了大部分器件的长度和宽度,所以这种偏差在更先进的工艺节点上尤其重要.传统的片上偏差（on-chip variation,OCV）已经使用了一个下降因子（derating factor）在所有的时序路径上,去模仿工艺变化,这样对于增加工艺偏差来说太悲观了.对比与传统的片上偏差,先进的片上偏差（Advanced OCV,AOCV）在不同的时序路径上给出了不同的下降因子.这样就可以减轻由于下降和减少过度设计和时序收敛周期而引起的过度悲观.这篇文章中我们介绍了一种创新的AOCV芯片设计流程,包括