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利用高分辨透射电镜(HRTEM)结合选区电子衍射(SAED)、能谱(EDS)和X射线衍射(XRD)对天津蓟县长城系串岭沟组(Chch)地层中伊利石的微结构特征进行了研究.所研究伊利石的Kübler指数(“伊利石结晶度”)为0.505°?2θ,表明所采岩石处于成岩阶段中期.EDS成分分析表明该伊利石样品层间电荷亏损严重,其平均化学晶体结构式为K0.57(Al1.80Mg0.42Fe02.+12)Σ=2.34(Si2.92Al1.08)Σ=4O10(OH)2.从获得的一维晶格像中观察到了具平直堆垛和弯曲