基于IEEE 1149.X标准的测试技术研究

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IEEE1149标准及其子标准是基于边界扫描的测试技术,它们针对不同的应用环境采用相应的技术标准.它们所提供的解决方案极大地方便了芯片级、板级、系统级及数字网络的测试.本文讨论了IEEE1149.X中各标准的原理、结构,分析了各项技术的发展及应用,并举例说明了在实际中的测试应用.
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