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在此前曾提出过一种新型二维折射率探测方法——并行扫描光谱表面等离子体共振（surface plasmon resonance, SPR）成像方法。在这种方法中，使用线形光照明，CCD得到的图像包含SPR光谱信息和一维空间信息，进而通过计算可得到折射率的一维分布信息。通过一维扫描，就能够得到整个被扫描区域内的折射率二维分布信息。该方法具有高灵敏、高通量的优点，适合微阵列（microarray）的检测, 并完善了这种方法的数据处理过程，使用空气折射率作为参考，消除了无法精确控制入射角的难题。使用该方法对手工点