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研究了研制阶段的成败型产品可靠性的Bayes评估问题。针对当前可靠性评估方法中，经典统计方法无法利用历史信息，而传统Bayes方法又存在对历史信息与现场信息不加区分的缺陷，提出了研制阶段成败型产品可靠性评估模型。模型使用混合验前分布，并用历史样本与现场样本的拟合优度来确定混合分布中的继承因子，这样合理性就很容易得到解释。