【摘 要】
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针对使用灰度控制算法不能准确绘制端点不在像素中心点的直线的问题,结合Wu算法,提出了一种基于灰度控制的任意端点直线反走样算法。介绍了Wu算法思想和灰度控制反走样算法,
【机 构】
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空军工程大学航空航天工程学院,陕西华燕航空仪表有限公司,陆军航空兵学院飞行理论系
【基金项目】
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总装预研基金资助项目（No.102080501）, 航空基金资助项目（No.20100818015）
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针对使用灰度控制算法不能准确绘制端点不在像素中心点的直线的问题,结合Wu算法,提出了一种基于灰度控制的任意端点直线反走样算法。介绍了Wu算法思想和灰度控制反走样算法,对两种算法进行数学分析,提出灰度控制不能解决的问题及问题产生的后果。结合Wu算法提出了新的基于灰度控制的算法,新算法减少了距离计算和灰度转换的计算,同时解决了任意端点直线的反走样问题。对新算法的效率和反走样效果进行仿真计算。仿真结果表明,新算法比Wu算法效率更高,绘制直线所用时间平均减少33.91%;新算法比灰度控制算法绘制直线更准确,特别是
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