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系统地研究了实际数字电路中冗余故障的特性.详细深入地分析了ISCAS 85基准电路中10个组合电路的全部550个冗余故障,找出了它们各自形成的原因并将其分成5类.研究发现其中只有3个故障是最难测的,算法中需要大量回溯;其它547个故障只要按照电路结构和测试本身的规律来形成测试,则基本上无需回溯即可.