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用X—射线衍射测定了八种用浸渍法制造的氯化汞—活性炭样品的X—射线衍射图,结合升华流失和比表面测定的数据,得出如下结论:当HgCl_2(重):活性炭(重)>0.19:1时,出现多层吸附。多层吸附时HgCl_2变成了Hg_2Cl_2,但单层吸附的物质仍是HgCl_2。单层吸附的HgCl_2,吸附在活性炭的大孔和中孔表面上。