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以Pb(OOCCH3)2·3H2O,Sc(OOCCH3)3·xH2O和Ta(OC2H5)5为原材料,用Sol-Gel方法在Pt/Ti/SO2/Si(1 0 0)基片上成功地制备出厚度达1.5 μm,无裂纹的PbSc0.5Ta0.5O3(PST)铁电薄膜.对(2 2 0)主晶向生长的PST薄膜分别在10~20 min、650~800 ℃范围内进行热处理,结果表明:热处理温度在750 ℃时,PST薄膜转变为较为完整的ABO3型钙钛矿晶相结构,更高的温度将提高晶粒在(2 2 0)方向的取向度