20 GHz~40 GHz微波介质基板带状线法介电性能测试研究

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文章对采用20~40 GHz微波介质基板带状线法测试介电常数、介质损耗、介电常数温度系数进行了探究,并将该方法与TE01δ测试腔法和介质谐振器法介电测试结果进行了比较,经研究表明,采用带状线法对于20~40 GHz介电常数结果与TE01δ测试腔法和介质谐振器法一致性较好,由于介电常数温度系数只与介电常数和温度有关系,所以对于20~40 GHz介电常数温度系数也可以采用该方法进行测试。对于介质损耗的测试,采用带状线法测试结果还存在一定的误差,通过提高Q值,优化系统,可能会进一步提高介质损耗测试的准确性。
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