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对SiGe低噪声放大器（LNA）的测试技术进行了探索，开发出适合SiGe低噪声放大器的可插拔测试基座。通过对商业样品的增益G（S21）、增益平坦度、带宽、回波损耗（S11和S12）、反向隔离度（S12）、1dB压缩点（P1dB），三阶互调节点（IP3）和噪声系数（NF）等参数的测试，验证了测试系统的准确性。对所开发的单片SiGe低噪声放大器进行了测试，获得了准确的测试数据，准确表征了SiGe低噪声放大器的性能。