衬底温度和氢气退火对ZnO:Al薄膜性能的影响

来源 :真空科学与技术学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:BalloonMan_Again
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采用射频磁控溅射法在石英玻璃衬底上制备了性能良好的透明导电ZnO:Al薄膜,并研究了衬底温度和氢气退火对薄膜结构和光电性能的影响。结果表明,衬底加热可以改善薄膜结晶质量和c轴择优取向,减小内应力,并提高其电学性能。经稀释氢气退火后,500℃沉积的薄膜电阻率由9.4×1014Ω·cm 减小到5.1×10-4Ω·cm ,迁移率由16.4cm2·V-1·s-1增大到23·3cm2·V-1·s-1,载流子浓度由4.1
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