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为进一步研究电容式RF-MEMS开关在实际应用中存在的可靠性问题,提出一种基于差分进化的量子粒子群算法(DE-QPSO)的多核相关向量机(MKRVM)方法对开关寿命进行预测.首先采用了限制带宽经验模态分解(BREMD)来对实验过程中获得的寿命数据进行去噪处理,提高数据的可靠性;其次采用DE-QPSO获取MKRVM的最优稀疏权重,并利用MKRVM算法对此类开关进行寿命预测;最后利用实验获取的实际数据对所用方法的准确性进行测试.实验结果表明,MKRVM能在0.21 s的时间内得到预测结果,所得数据的均方根为3.104 3×106 s,最接近原始数据的3.065 7×106 s;DE-QPSO能在0.45 s内得到优化结果,方差为7×10-5.同时得到弹性系数在4～16 N/m的范围内取值时开关寿命最长的结论.