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研究了微量元素铋对Sr0.5Ba0.5-xBixTiO3薄膜介电性能的影响。当X分别为0～0．030mol时，相对介电常数εr、介质损耗tanδ逐渐降低，最大介电常数温度点Tm（居里温度点）逐渐移向低温；在所测试频率范围内，εr、tanδ均能表现出较好的频散特性；当铋掺量为0．015mol时，薄膜的Pr为0．22μC/cm^2、Ps为0．32℃／cm^2、Ec为60kV／cm。采用XRD、FTIR、TEM等测试方法分析了薄膜的结构特征。薄膜的矿物组成为四方钙钛矿结构，但[TiO6]八面体特征吸收峰（471