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以甲基磺酸锡为镀锡液的主盐,采用Stoney镀层应力测试方法,以及锡晶须生长趋势评价标准(JEDEC标准JESD22A121.01),研究了双向脉冲电沉积参数对纯锡镀层拉应力大小及其晶须生长特性影响的规律。利用扫描电子显微镜(SEM)表征了锡镀层晶须生长前后的微观形貌,优选出了锡镀层应力低、锡晶须生长趋势小的双向脉冲电沉积参数(平均电流密度为10 A/dm^2,占空比为0.7,逆向脉冲系数为0.5,频率为10 Hz)。结果表明,通过调控双向脉冲参数,可控制纯锡镀层内应力的大小,进而制备出可抑制锡晶须生长的