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为了研究在1维光子晶体中掺杂具有吸收的零平均折射率材料而产生的孪生缺陷模特性，采用特征矩阵的方法进行了理论分析。结果表明，随着消光系数的变大，会使孪生缺陷模透射率先变大后变小，当其取某一特定值时，高低频缺陷模会出现最大值，但不能同时出现；具有吸收特性的介质在缺陷层中的位置不同，会改变孪生缺陷模透射率的响应曲线。这一结果对开发光子晶体新的应用有重要意义。