有机包覆抗硫化腐蚀的银键合丝研究

来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ktaxx01
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
选取了纯银键合丝和有机包覆银键合丝,通过抗硫化腐蚀试验,分析对比其表面形貌、电学性能和键合性能。结果表明,表面包覆的有机膜有效减少了银键合丝表面由于Ag与S反应生成的Ag2S,保障了银丝金属光泽和低电阻电学性能,保证了银丝在引线键合过程中的稳定性能,为解决银键合丝易硫化腐蚀的问题提供了可行性方案。
其他文献
单站交叉定位是一种常用的定位方法,首先分析影响机载ELINT设备单站交叉定位精度的因素,并针对实际指标考核时,分析与这些因素的关系,仿真不同考核场景下的单站交叉定位精度,得到航线对定位精度的影响情况,最后通过试验数据对仿真结果进行验证,对实际考核具有参考意义。
随着摩尔定律放缓,各种先进封装技术成为半导体产业的重要研究内容。同时,这些技术也为系统工程师们如何实现定制电路小型化提供了更多样的选择。在对已有SiP技术研究的基础上,基于国内工艺线,尝试使用扇出晶圆级封装技术实现一款控制模块,为该技术在数模混合系统小型化中的应用提供参考。
针对机载电子战干扰使用时机的优选问题,提出一种基于优势评估函数的分析方法。通过电子战干扰限定条件和使用原则的量化分析,以及敌我信息优势的建模分析,初步形成一种干扰使用时机点的寻优方法。仿真结果表明,该方法合理有效,能够改进传统的干扰使用时机主要依赖个人经验的方法。
针对航空远距离压制干扰对雷达探测性能影响动态变化问题,首先建立远距离跑道型飞行航线,计算不同时刻雷达干扰暴露区的变化。其次改变干扰机飞行航线,研究不同参数变化对雷达干扰压制效果的影响。最后增加电子战飞机的数量,研究两架飞机间隔时间对雷达压制效果的影响。通过仿真计算,探索航空远距离压制干扰中的规律性问题,为实施航空远距离干扰提供指导借鉴。
针对系统级封装(System in Package,SiP)中多尺度复杂结构的热仿真效率等问题,采用热阻网络等效热导率方法,推导得到等效热导率模型。与精确SiP模型相比,等效模型的仿真效率提高了58%,同时保证了仿真精度,两者之间误差为7.6%。对等效SiP模型进行散热优化设计,分析带散热器的自然对流、带散热器的强迫风冷和微通道液冷3种方案的散热效果,结果显示微通道液冷表面传热系数大,散热能力更强,完全满足高功率SiP可靠工作的温度要求。
针对电磁频谱战中己方频率冲突问题,提出一种考虑频谱管理的干扰机阵位规划方式,通过在阵位作战效能中增加用频冲突指数,使规划的阵位能够满足对敌方的压制效果,同时减轻对己方战斗机的干扰,提高频谱利用率。首先研究联合突防压制作战概念,并建立远距离支援干扰效能模型和用频冲突检查模型,基于模型制定了阵位规划方案。最后通过仿真验证此阵位规划方式的有效性。结果表明,该方式对电磁频谱战中的阵位规划有较高指导意义。
设计一种低剖面高增益平面螺旋天线。通过利用吸收型平面螺旋天线与反射型平面螺旋天线相结合的方式降低天线的剖面高度,提高天线增益;通过曲折臂末端加载结构,在不影响天线增益的前提下降低天线口径尺寸。设计的平面螺旋天线直径为120 mm,剖面高度33 mm,在1~6 GHz范围内,相比于普通的平面螺旋天线剖面高度大大降低,增益得到明显提高。测试结果表明,驻波小于2.5,低端增益大于-5 dB,高端增益大于5 dB。
在电子对抗作战过程中对敌方雷达进行威胁评估是电子对抗指挥决策的前提条件之一。由于敌方雷达种类以及威胁影响因素繁多,选取陆基预警雷达为研究对象,依据敌方雷达固有技战术参数进行威胁评估,分析并建立陆基预警雷达固有威胁评估指标体系,基于层次分析法(AHP)实现对陆基预警雷达的固有威胁评估。仿真结果表明该评估方法可对陆基预警雷达固有威胁进行有效量化评估。
电子战系统通常采用外辐射源对阵列系统进行通道间相位校正。在室外环境下,受到反射、散射等多径信号叠加的影响,校正得到的相位差已经不是真实入射角度对应的相位差,对系统的高精度测向带来影响。提出一种利用线性调频信号进行阵列系统相位误差校正的方法,通过对接收信号的去斜,实现多径信号与直达信号在频域上的分辨,进而测量出该频点下通道间的相位误差,实现对该角度下的相位误差校正。理论分析和仿真计算表明,该方法能够在多径条件下大幅减小系统校正的相位误差,从而提高系统测向精度。
陶瓷球栅阵列(CBGA)封装由于其优异的电性能和气密性等优点而被广泛应用于军事、航空和航天电子制造领域中。CBGA陶瓷基板与印制电路板(PCB)之间的热失配一直是CBGA封装可靠性研究主要关心的问题。对CBGA器件装配工艺进行研究,并对焊点在温度循环(-55~+100℃)和随机振动条件下的失效机理进行分析。结果表明,焊点在温度循环和随机振动等综合应力作用下发生开裂,器件四角处的焊点最先发生开裂,开裂位置为焊料与陶瓷器件焊盘接触位置。温度循环试验后CBGA器件焊点形成的IMC层厚度略有增加。