主动中子多重符合测量技术模拟研究

来源 :核电子学与探测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:langjitianya198411
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利用MCNPx软件对主动中子多重符合测量技术涉及的源-样耦合常数、增殖系数进行理论模拟,获得了不同形态样品两参量间的经验公式,初步分析了影响源-样耦合常数的主要因素,为HEU中235 U质量的认证测量及探测精度的提高奠定了重要的理论基础。
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