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采用真空蒸发沉积的方法，在覆盖有ITO膜的玻璃基片上沉积一层Liq。利用原子力显微镜（AFM）对制备的Liq／ITO样品表面进行扫描，发现Liq粉末表现为岛状形态，其表面极不平整，存在大量裂缝和空隙，有许多针孔。用X射线光电子能谱（XPS）研究了Liq／ITO紧密接触的表面和界面电子状态。对样品In3d和Sn3d的电子状态分析也证实了ITo表面沉积Liq膜存在裂缝和针孔，这些裂缝和针孔吸附了空气中大量的气体分子；对Cls谱的分析发现，ITO膜表面存在一定的C污染；对Nls谱分析可知，界面处N原子与O、In