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分析高分辨（能谱获取测量对象特定信息在军控核查领域有重要应用,根据多组不同能峰强度比等信息反解给出源外屏蔽材料几何信息有望有效消除未知包装容器对容器内部材料特性认识的影响。分析建立了反解源外双层屏蔽厚度的方法,实验测量反解了钚源和~（152）Eu点源外双层屏蔽材料的厚度,~（152）Eu点源的解析结果明显优于钚源,分析了实验解析结果与实际厚度值之间存在一定偏差的原因。