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介绍了一种可用于电光采要系统的微波扫描移相器，其线性度≤１．４％，插入损耗≤４．０５ｄＢ。用此移相器组成的电光采样测试系统测量了高速门电路波形，并讨论了扫描时间的定方法。
微波扫描移相器在电光采样系统中的应用
【摘 要】
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介绍了一种可用于电光采要系统的微波扫描移相器，其线性度≤１．４％，插入损耗≤４．０５ｄＢ。用此移相器组成的电光采样测试系统测量了高速门电路波形，并讨论了扫描时间的定方法。
【机 构】
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吉林大学电子工程系,集成光电子国家重点联合实验室吉林大学实验区
【出 处】
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微电子学
【发表日期】
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1997年2期
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