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在传统的轻敲模式原子力显微镜基础上利用抬高模式对DNA分子的高度进行了测量研究.通过不断抬高针尖高度,逐步减小针尖对样品的作用力,以测量软样品的形变量,并通过记录针尖的抬高高度来计算DNA分子的高度.实验中利用抬高模式测得的DNA分子高度为1.5±0.2 nm,而传统轻敲模式下测得的DNA分子的高度为0.8±0.2nm,表明针尖对DNA的作用力是导致传统轻敲模式测得DNA分子高度较低的重要因素.同时本文采取的方法也适用于测量其他软样品的高度.