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为提高边界扫描测试效率，提出一种多链边界扫描测试的优化配置方法，其主要思想是按照边界扫描器件内部边界扫描单元数目的多少将芯片分别配置到多条扫描链中以使扫描链的长度尽量相等，从而减少扫描周期；测试过程可分成多个阶段，每个阶段至少有一个芯片完成测试，完成测试的芯片置于旁路以缩短扫描链的长度；通过计算验证该方法能够缩短电路板的测试时间，提高了测试效率。